Analytical Testing & Services
| SI.No | शीर्षक | Division | Facility/Equipment | Method/Instrument | Charges for R&D Instt & SSI | Charges for Students | Charges for Industry | Charges for Internal Samples | Remark | Remark2 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 61 | सर्कुलर डाइक्रोइज्म स्पेक्ट्रोस्कोपी मेज़रमेंट | रासायनिक विज्ञान एवं प्रौद्योगिकी प्रभाग (सीएसटीडी) | सर्कुलर डाइक्रोइज्म स्पेक्ट्रोस्कोपी मेज़रमेंट | पहले एक घंटे के लिए 1000/- + अतिरिक्त घंटों के लिए 500/- | पहले एक घंटे के लिए 1000/- + अतिरिक्त घंटों के लिए 500/- | पहले एक घंटे के लिए 2000/- + अतिरिक्त घंटों के लिए 1000/- | पहले एक घंटे के लिए 2000/- + अतिरिक्त घंटों के लिए 1000/- |
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| 62 | पीपीएमएस थर्मल ट्रांसपोर्ट विकल्प (टीटीओ) परीक्षण शुल्क/घंटा | पदार्थ विज्ञान एवं प्रौद्योगिकी प्रभाग (एमएसटीडी) | पीपीएमएस थर्मल ट्रांसपोर्ट विकल्प (टीटीओ) परीक्षण शुल्क/घंटा | पीपीएमएस थर्मल ट्रांसपोर्ट विकल्प (टीटीओ) परीक्षण शुल्क/घंटा | 4000 | 2000 | 8000 | प्रति नमूना |
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| 63 | मॉडल 8801 घिसाव और घर्षण मॉनिटर डीयूसीओएम इंस्ट्रूमेंट्स मॉडल टीआर20एलई | पदार्थ विज्ञान एवं प्रौद्योगिकी प्रभाग (एमएसटीडी) | मॉडल 8801 घिसाव और घर्षण मॉनिटर डीयूसीओएम इंस्ट्रूमेंट्स मॉडल टीआर20एलई | मॉडल 8801 घिसाव और घर्षण मॉनिटर डीयूसीओएम इंस्ट्रूमेंट्स मॉडल टीआर20एलई | 1200 | 600 | 2400 | प्रति नमूना |
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| 64 | सूक्ष्म-कठोरता परीक्षण ( क्लेमेक्स, जेएस 2000) | पदार्थ विज्ञान एवं प्रौद्योगिकी प्रभाग (एमएसटीडी) | सूक्ष्म-कठोरता परीक्षण ( क्लेमेक्स, जेएस 2000) | सूक्ष्म-कठोरता परीक्षण ( क्लेमेक्स, जेएस 2000) | 1350 | 680 | 2700 | प्रति नमूना |
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| 65 | ऑप्टिकल मेटलोग्राफी (डिजिटल कैमरा और सामग्री कार्य स्टेशन के साथ लीका डीएमआरएक्स माइक्रोस्कोप) | पदार्थ विज्ञान एवं प्रौद्योगिकी प्रभाग (एमएसटीडी) | ऑप्टिकल मेटलोग्राफी (डिजिटल कैमरा और सामग्री कार्य स्टेशन के साथ लीका डीएमआरएक्स माइक्रोस्कोप) | ऑप्टिकल मेटलोग्राफी (डिजिटल कैमरा और सामग्री कार्य स्टेशन के साथ लीका डीएमआरएक्स माइक्रोस्कोप) | 1200 | 600 | 2400 | प्रति नमूना |
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| 66 | डाइइलेक्ट्रिक स्पेक्ट्रोस्कोपी (1 मेगाहर्ट्ज से 32 मेगाहर्ट्ज) सोलरट्रॉन 1260 | पदार्थ विज्ञान एवं प्रौद्योगिकी प्रभाग (एमएसटीडी) | डाइइलेक्ट्रिक स्पेक्ट्रोस्कोपी (1 मेगाहर्ट्ज से 32 मेगाहर्ट्ज) सोलरट्रॉन 1260 | डाइइलेक्ट्रिक स्पेक्ट्रोस्कोपी (1 मेगाहर्ट्ज से 32 मेगाहर्ट्ज) सोलरट्रॉन 1261 | 1200 | 600 | 2400 | प्रति नमूना |
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| 67 | ध्रुवीकृत ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप (डिजिटल कैमरा और सॉफ्टवेयर के साथ लीका डीएम2700पी) | पदार्थ विज्ञान एवं प्रौद्योगिकी प्रभाग (एमएसटीडी) | ध्रुवीकृत ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप (डिजिटल कैमरा और सॉफ्टवेयर के साथ लीका डीएम2700पी) | ध्रुवीकृत ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप (डिजिटल कैमरा और सॉफ्टवेयर के साथ लीका डीएम2700पी) | 1200 | 600 | 2400 | प्रति नमूना |
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| 68 | थर्मो ग्रेविमेट्रिक/डिफरेंशियल थर्मल विश्लेषक - विश्लेषण डायमंड टीजी/डीटीए पर्किन एल्मर | पदार्थ विज्ञान एवं प्रौद्योगिकी प्रभाग (एमएसटीडी) | थर्मो ग्रेविमेट्रिक/डिफरेंशियल थर्मल विश्लेषक - विश्लेषण डायमंड टीजी/डीटीए पर्किन एल्मर | थर्मो ग्रेविमेट्रिक/डिफरेंशियल थर्मल विश्लेषक - विश्लेषण डायमंड टीजी/डीटीए पर्किन एल्मर | 4350 | 2180 | 8700 | प्रति नमूना |
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| 69 | सतह क्षेत्र विश्लेषक ट्रिस्टार 3000-बीईटी | पदार्थ विज्ञान एवं प्रौद्योगिकी प्रभाग (एमएसटीडी) | सतह क्षेत्र विश्लेषक ट्रिस्टार 3000-बीईटी | सतह क्षेत्र विश्लेषक ट्रिस्टार 3000-बीईटी | 4500 | 2250 | 9000 | प्रति नमूना |
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| 70 | स्टीरियोमाइक्रोस्कोप (डिजिटल कैमरे के साथ ज़ीस माइक्रोस्कोप) | पदार्थ विज्ञान एवं प्रौद्योगिकी प्रभाग (एमएसटीडी) | स्टीरियोमाइक्रोस्कोप (डिजिटल कैमरे के साथ ज़ीस माइक्रोस्कोप) | स्टीरियोमाइक्रोस्कोप (डिजिटल कैमरे के साथ ज़ीस माइक्रोस्कोप) | 1200 | 600 | 2400 | प्रति नमूना |
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| 71 | ट्रेस एलिमेंट विश्लेषण एएएस | पदार्थ विज्ञान एवं प्रौद्योगिकी प्रभाग (एमएसटीडी) | ट्रेस एलिमेंट विश्लेषण एएएस | 1890 | 1500 | 3780 | प्रति घंटा |
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| 72 | पीपीएमएस वाइब्रेटिंग सैंपल मैग्नेटोमेट्री (वीएसएम) परीक्षण शुल्क/घंटा | पदार्थ विज्ञान एवं प्रौद्योगिकी प्रभाग (एमएसटीडी) | पीपीएमएस वाइब्रेटिंग सैंपल मैग्नेटोमेट्री (वीएसएम) परीक्षण शुल्क/घंटा | पीपीएमएस वाइब्रेटिंग सैंपल मैग्नेटोमेट्री (वीएसएम) परीक्षण शुल्क/घंटा | 3000 | 1500 | 6000 | प्रति नमूना |
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| 73 | एक्स-रे डॉट मैपिंग के साथ एसईएम-ईडीएस | पदार्थ विज्ञान एवं प्रौद्योगिकी प्रभाग (एमएसटीडी) | एक्स-रे डॉट मैपिंग के साथ एसईएम-ईडीएस | एक्स-रे डॉट मैपिंग के साथ एसईएम-ईडीएस | 10800 | 5400 | 21600 | प्रति नमूना |
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| 74 | एसईएम-ईडीएस दो फ्रेम विश्लेषण | पदार्थ विज्ञान एवं प्रौद्योगिकी प्रभाग (एमएसटीडी) | एसईएम-ईडीएस दो फ्रेम विश्लेषण | 4500 | 2250 | 9000 | प्रति नमूना |
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| 75 | स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी (एसईएम) | पदार्थ विज्ञान एवं प्रौद्योगिकी प्रभाग (एमएसटीडी) | स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी (एसईएम) | स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी (एसईएम) | 4500 | 2250 | 9000 | प्रति नमूना |
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| 76 | फेरोइलेक्ट्रिक पीई मापन | पदार्थ विज्ञान एवं प्रौद्योगिकी प्रभाग (एमएसटीडी) | फेरोइलेक्ट्रिक पीई मापन | 3000 | 1500 | 6000 | प्रति नमूना |
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| 77 | स्क्रीन और स्टेंसिल प्रिंटिंग (पैटर्न वाली स्क्रीन, प्रवाहकीय स्याही आदि उपभोग्य सामग्रियों के बिना ) | पदार्थ विज्ञान एवं प्रौद्योगिकी प्रभाग (एमएसटीडी) | स्क्रीन और स्टेंसिल प्रिंटिंग (पैटर्न वाली स्क्रीन, प्रवाहकीय स्याही आदि उपभोग्य सामग्रियों के बिना ) | स्क्रीन और स्टेंसिल प्रिंटिंग (पैटर्न वाली स्क्रीन, प्रवाहकीय स्याही आदि उपभोग्य सामग्रियों के बिना ) | 4000 | 2500 | 8000 | प्रति नमूना |
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| 78 | आइसोस्टैटिक लेमिनेशन प्रेसिंग | पदार्थ विज्ञान एवं प्रौद्योगिकी प्रभाग (एमएसटीडी) | आइसोस्टैटिक लेमिनेशन प्रेसिंग | 2000 | 1000 | 4000 | प्रति नमूना |
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| 79 | ब्रिनेल/विकर्स कठोरता परीक्षण; आयातित कठोरता परीक्षक इंडेंटेक, यूके खुरदरापन, थकान आदि; 10 से डायनामिक परीक्षण मशीन इंस्ट्रोन, यूके | पदार्थ विज्ञान एवं प्रौद्योगिकी प्रभाग (एमएसटीडी) | ब्रिनेल/विकर्स कठोरता परीक्षण; आयातित कठोरता परीक्षक इंडेंटेक, यूके खुरदरापन, थकान आदि; 10 से डायनामिक परीक्षण मशीन इंस्ट्रोन, यूके | ब्रिनेल/विकर्स कठोरता परीक्षण; आयातित कठोरता परीक्षक इंडेंटेक, यूके खुरदरापन, थकान आदि; 10 से डायनामिक परीक्षण मशीन इंस्ट्रोन, यूके | 10800 | 5400 | 21600 | प्रति नमूना |
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| 80 | रियोमीटर | पदार्थ विज्ञान एवं प्रौद्योगिकी प्रभाग (एमएसटीडी) | रियोमीटर | 2040 | 1360 | 4080 | प्रति कार्यक्रम |
विश्लेषणात्मक परीक्षण एवं सेवा समन्वयक का पता
श्री चंद्रकांत सी.के.,
वरिष्ठ प्रधान वैज्ञानिक,
विश्लेषणात्मक परीक्षण और सेवा समन्वयक,
सीएसआईआर-एनआईआईएसटी, पाप्पनमकोड , तिरुवनंतपुरम - 695019,
टेलीफ़ोन : +91-471-2515226 ईमेल : chandra[at]niist[dot]res[dot]in
